太陽能電池在使用過程中會存在著一些無法感知的瑕疵，只有借助專業(yè)儀器才能進行檢測。

光伏電站測試設(shè)備即EL缺陷檢測器對太陽能電池模塊裂紋，碎片，焊點，斷閘以及不同轉(zhuǎn)換效率單電池異常情況進行測試。太陽能電池片分為單晶硅片與多晶硅片兩種，因其制作條件具有隨機性等特點，導(dǎo)致其制作時出現(xiàn)了一定的缺陷。EL探傷儀是利用紅外測試手段對電池組件實施EL成像模式的探傷儀，用于探測電池芯片組件內(nèi)有無電池破裂，裂紋，黑芯片，斷閘嚴重，焊料破裂，焊破和焊壞等缺陷。再進入后續(xù)工序，由于電源發(fā)射光線和PN結(jié)內(nèi)離子濃度顯著相關(guān)，可依據(jù)EL計算機的反射圖像來判斷硅片內(nèi)有無異?，F(xiàn)象。由此確保太陽能電池組件品質(zhì)。

局部缺陷檢測說明-

黑心片:EL照片上反射出的黑心膜的產(chǎn)生主要是由于該區(qū)未發(fā)射出1150紅外光而造成黑心片對紅外照片的反射所致。該黑色芯板由中心部位高電阻率產(chǎn)生。這與硅襯底上少量載流子濃度相關(guān)。

黑色電影：生產(chǎn)中因一再強調(diào)減少定向凝固時間晶體、潛熱釋放融化與溫度場溫度梯度失配、晶體生長速率增加、過度熱應(yīng)力導(dǎo)致內(nèi)部位錯硅片等。

短路黑片：單根線焊接元件造成短路等；在元器件層壓之前，電池電池效率較低形成短路黑膜；邊緣亮澤的黑色薄膜叫非短路黑色薄膜。主要是因為n型芯片誤用硅片，造成PN結(jié)、短路電池不能對外供電、輸出功率及IV測試曲線下降。造成對元件整體功率及填充系數(shù)的影響。

電池柵極：電池柵極的產(chǎn)生是因為太陽能電池絲網(wǎng)印刷時參數(shù)設(shè)定不當(dāng)，或者絲網(wǎng)印刷質(zhì)量不過關(guān)。輕微柵極斷口對于元件而言并不十分重要，但是若柵極比較嚴重而影響單片電池電流時，將影響元件整體電氣性能。

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